原子力顯微鏡（AFM）
儀器名稱 | 原子力顯微鏡（AFM） |
|
型號 | 布魯克 MULTIMODE 8 | |
主要規格 及技術指標 | 1. 分辨率：水平 0.2 nm，垂直0.01 nm 2. 極大掃描范圍：30μm×30μm×5μm 3. 放大倍率: 1000x -1000000x | |
材料要求 | ||
主要功能 及應用范圍 | 原子力顯微鏡具有材料形態、斷面形狀、平均剃度、粒度、表面的粗糙度等圖像處理和分析功能。 | |
收費標準 | 薄膜樣品 300元/樣 固體需制樣樣品 350元/樣 | |
儀器名稱 | 原子力顯微鏡（AFM） |
|
型號 | 布魯克 MULTIMODE 8 | |
主要規格 及技術指標 | 1. 分辨率：水平 0.2 nm，垂直0.01 nm 2. 極大掃描范圍：30μm×30μm×5μm 3. 放大倍率: 1000x -1000000x | |
材料要求 | ||
主要功能 及應用范圍 | 原子力顯微鏡具有材料形態、斷面形狀、平均剃度、粒度、表面的粗糙度等圖像處理和分析功能。 | |
收費標準 | 薄膜樣品 300元/樣 固體需制樣樣品 350元/樣 | |
